Microscopia Electrónica de Barrido (SEM)

TM4000 III y TM4000PLUS III, microscopios de sobremesa compacto para imagen rápida, manipulación flexible de muestras y análisis elemental fiable.

Microscopios electrónico de barrido de alta resolución

Microscopio electrónico de barrido compacto

Cámara para muestras grandes Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) de presión variable

Microscopio electrónico de barrido Schottky de alta resolución

Microscopio electrónico de barrido de presión variable con cámara para muestras de gran tamaño

SEM de emisión de campo tipo Schottky con presión variable y cámara de muestras extra grande

Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo y presión variable

Microscopio electrónico de barrido por emisión de campo de ultra alta resolución

Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo de ultra alta resolución Hitachi.

La tecnología CFE Gun presente en el Hitachi SU9000II logra la mayor resolución SEM del mundo (0.4 nm a 30 kV).

Microscopio electrónico de barrido Schottky de ultra alta resolución.