Produits Profilomètrie Optique disponibles en France
S neox Grand Format
Avec sa course étendue de 600 × 600 mm et sa certification pour la caractérisation des semi-conducteurs, ce système garantit des performances constantes et fiables. Équipé d’une technologie avancée 3-en-1, il offre une polyvalence de mesure exceptionnelle et constitue la solution idéale pour les applications sur grands panneaux dans les secteurs des semi-conducteurs, des écrans et des PCB.
